镀层测厚及材料分析我都行

yao123456 · 发表于 2015-7-29 16:10:00

还在为测厚和分析材料的问题愁吗？正业科技为你推荐一款--菲希尔Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210为你解忧。
   产品用途：
该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，最多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。

产品特点：
1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用
2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择
3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）
4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。
正业科技国家高新企业主营剥离强度测试仪、特性阻抗测试仪、离子污染测试仪、二次元测量仪、尼康金相显微镜、双盘研磨机等实验室仪器设备，正业科技爱思达ASIDA是中国精密检测仪器设备领导品牌除了国内销售外，产品还远销俄罗斯、美国、英国、韩国、巴西、新加坡、泰国、马来西亚、越南、中国香港、中国台湾等多个国家和地区。
热线电话：4008038918
   官网：http://www.zhengyekeji.net/
   欢迎广大客户前来我司参观！

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